以正硅酸乙酯(TEOS)为无机前驱体,采用溶胶-凝胶(Sol-Gel)路线制备了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO2)纳米杂化薄膜.利用傅立叶变换红外光谱(FT-IR),扫描电子显微镜(SEM)等手段表征了PI/SiO2的杂化薄膜的化学结构和微观形貌,讨论了硅烷偶联剂和加入的水量对PI/SiO2纳米杂化薄膜聚集态结构的影响.研究结果表明,偶联剂的加入提高了有机相与无机相的相容性.加入不同的水量对PI/SiO2杂化薄膜聚集态结构产生不同的影响.当TEOS与加入的水量摩尔比为1:6时,团聚的SiO2粒子的平均尺寸小于20 nm,有机相与无机相无明显界面.
参考文献
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