保护膜外逸电子发射特性对壁电荷的影响及改进方法

1.东南大学,电子科学与工程学院,显示技术研究中心,江苏,南京,210096;江苏省信息显示工程技术研究中心,江苏,南京,210096

2.东南大学,电子科学与工程学院,显示技术研究中心,江苏,南京,210096;江苏省信息显示工程技术研究中心,江苏,南京,210096

3.东南大学,电子科学与工程学院,显示技术研究中心,江苏,南京,210096

基金项目: 国家高技术研究发展计划(863计划)(2008AA03A308) 国家自然科学基金(60571033) 高等学校学科创新引智计划(111计划)项目(B07027)

Effect of Exo-Electronic Emission from Protective Layer on Wall Charge and Improvement Ways

保护膜的外逸电子发射有利于缩短PDP响应时间并使放电稳定进行,但同时也会带来壁电荷的损失.文章评述了保护膜的外逸电子发射特性致使壁电荷损失的因素,并讨论了目前为改善壁电荷损失采用的方法,为合理利用保护膜的外逸电子发射特性提供了良好的研究基础.

[1]	Shiga T,Mori T,Saito A,et al.Late-news paper:Exo-electron emission from MgO and ultra-high contrast drive of PDPs[C]//SID05 Digest,Boston,USA:SID,2005:1248-1251.
[2]	Nagorny V P,Khudik V N,Shvydrk A.Statistical instability of the ramp discharge and the role of exoemission[J].Plasma Science,2006,34(2):343-350.
[3]	Park K H,Kim Y S.Effects of hydrogen doping in MgO electron emission layer and wall charge model of ac-PDP[C].SID07 Digest,California,USA:SID,2007:1430-1433.
[4]	Tolner H.MgO-present & future[C]//41st PDP International Forum,Takamatsu,Japan:IDW,2005:1-59.
[5]	Yoon S H,Yang H S,Kim Y S.Wall charge holding characteristics of doped MgO thin film for ac-PDP[C]//IDW07,Sapporo,Japan:IDW,2007:811-812.
[6]	Yoon S H,Ryu H W,Hong C R,et al.Measurement of exo-electron emission from MgO thin film of AC-PDP[C]//SID2008 Digest,Las Angeles,USA:SID,2008:287-290.
[7]	Lee M S,Matulevich Y,Kim K D,et al.Correlation between wall charge of a MgO film and discharge delay time[C]//SID05 Digest,Boston,USA:SID,2005:1232-1235.
[8]	Seo K H,Whang K W.Discharge delay reduction by controlling the roughness of dielectric surface in AC PDP[C]//IMID/IDMC 06 Digest,Daegu,Korea:IMID,2006:1491-1494.
[9]	Tolner H,Li Q,Shao Q Y,et al.Fundamental aspects of exoemission in the PDP protective layer[C].ICMAP 2008,Jeju,Korea:ICMAP,2008.
[10]	Kim D H,Jeon W J,Song T Y,et al.Study on the discharge characteristics in AC PDP at high temperature[C]//IDW07,Sapporo,Japan:IDW,2007:851-854.

上一张下一张

计量

作者相关

文章评分