针对液晶器件的特点,对其表面残留液晶的非接触式检测技术进行了研究,提出了基于迭代阈值分割和数学形态学的边缘检测方法,可以从目标区域中判断出液晶残留形貌与边缘.首先将原图按坐标分成若干子图像,再对子图像进行迭代阈值分割,然后采用不同尺度的结构元素来检测图像边缘,再进行加权合成来获得边缘图像,并从理论上分析了噪声对边缘提取的影响情况.实验表明,该方法很好地抑制了噪声和保持图像边缘细节,并且能够提取出精确且封闭的残留液晶的边缘轮廓,为下一步缺陷特征量的提取与选择奠定了基础.
参考文献
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