PDP中的障壁是决定显示板着火电压和亮度等主要光电参数的重要部件,在制作过程中加强障壁半成品检验,对提高显示板成品率和降低成本具有重要意义.本文介绍障壁的光阻挡立体检验方法系基于经典的光反射原理加之现代的图像处理技术而成,辅以一系列提高检验精度的措施后,对障壁外形检验精度可达±1μm,还可实现快速检测.
参考文献
| [1] | Weber L F. The promise of plasma displays for HDTV[J]. Information Display, 2000,(12):16-20. |
| [2] | 顾智企. 等离子体显示板制造过程的中间检验技术[J]. 现代显示,2002,(2):48-52. |
| [3] | 朱昌昌. 彩色 PDP电极和障壁制造技术评述[J].光电子技术,1998,18(3):169-175. |
| [4] | 卜忍安,张军,张劲涛. PDP制造中的曝光技术研究[J]. 液晶与显示,2001,16(3):214-219. |
| [5] | 六角正.1998FDPテクノロジ-大全[M].东京都:工业调查会出版,1999,459-462. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%