论述了向列相液晶分子取向有序度的评价方法以及与宏观物理张量之间的关系,阐述了椭圆偏光解析法测量分子取向有序度的原理,并应用在基板表面液晶界面层中的测量.实验结果表明,即使是在强摩擦条件下基板表面附近50nm厚的液晶层中,分子取向有序度低于液晶体内部的值.讨论了实验误差,确认了这一结果的合理性,为澄清液晶取向排列原动力模型提供了实验依据.
参考文献
| [1] | Saupe, Phys. Rev. Lett., 1963, 11: 462 |
| [2] | Saupe, Mol. Cryst., 1972, 16:87 |
| [3] | Hanson E G, Shen Y R, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 1976, 36:193 |
| [4] | Hsiung H, Rasing Th, Shen Y R, Phys. Rev. Lett., 1986, 57(24):3065 |
| [5] | Moses T Shen Y R, Phys. Rev. Lett., 1991, 67(15): 2033 |
| [6] | Chen W, Martinez-Miranda L J, Hsiung H, et al., Phys. Rev. Lett., 1989, 62(16):1860 |
| [7] | Yokoyama Hiroshi, J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2, 1988, 84(8):1023 |
| [8] | Shen Y R, Ann. Rev. Mater. Sci., 1986, 16:69 |
| [9] | Mullin C S, Guyot-Sionnest P, Shen Y R, Phys. Rev. A, 1989, 39(7):3745 |
| [10] | Chen W, Feller M B, Shen Y. R, Phys. Rev. Lett., 1989, 63(24):2665 |
| [11] | Ouchi Y, Feller M. B, Moses T et al., Phys. Rev. Lett., 1992, 68(20):3040 |
| [12] | Chandrasekhar S, Liquid Crystals, second edition, 1980, 41 |
| [13] | de Gennes P G, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 1969, 7:325 |
| [14] | Adamski P, Holwek A et al., Mol. Cryst. Liq. Cryst., 1980, 60:53 |
| [15] | de Gennes P G, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 1971, 12:193 |
| [16] | Lee E S, Vetter P, Miyashita T et al., Jpn. J. Appl. Phys., 1993, 32:L1339 |
| [17] | Horn R G, LE Journal de Physique, 1978, 39:105 |
| [18] | Adamski P, Dylik-Gromiec A, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 1976, 35:337 |
| [19] | Azzam R M A, Bashara N. M, Ellipsometry and Polarized Light, Chap.4 |
| [20] | Uchida T, Hirano M, Sakai H, Liquid Crystals, 1989, 5(4):1127 |
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