基于显微CT技术的C/C-SiC复合材料孔隙率测量方法

宇航材料工艺 , 2015, 45(4): 122-126. doi: 10.3969/j.issn.1007-2330.2015.04.028

基于显微CT技术的C/C-SiC复合材料孔隙率测量方法

江柏红 ^1, , 周金帅 ^2, , 高晓进 ^3, , 江玉朗 ^4,

1.航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074

2.航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074

3.航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074

4.航天特种材料及工艺技术研究所,北京,100074

关键词：显微CT , 孔隙率 , 灰度直方图 , 阈值分割

Porosity Measurement Method of C/C-SiC Composites Based on Micro-CT Technology

Keywords： Micro-CT , Porosity , Gray histogram , Threshold segmentation

提出了一种基于显微CT技术的测量复合材料孔隙率的新方法,研究了C/C-SiC复合材料体积孔隙率测量原理,讨论了测量区域体积对测量结果的影响.研究结果表明,显微CT技术能够获取复合材料内部三维微观图像,通过灰度直方图阈值分割法能够较为精确测量C/C-SiC复合材料体积孔隙率,并且只有选择的测量体积范围超过一定值时才能获得较为精确的测量结果.

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基于显微CT技术的C/C-SiC复合材料孔隙率测量方法

Porosity Measurement Method of C/C-SiC Composites Based on Micro-CT Technology

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