针对DD6单晶叶片射线检测底片上出现的一些疑似缺陷,作者从理论分析和具体实验两方面进行了研究.从叶片的材料性能和铸造角度分析,DD6单晶叶片可能存在孔洞类的内部冶金缺陷.而设计的具体实验则是将收集的11片叶片样品进行解剖,并将断面与其射线底片进行对比,得出结论:这些疑似缺陷并不是金属内部冶金缺陷,而是表面缺陷.
参考文献
| [1] | 陈荣章.航空铸造涡轮叶片合金和工艺发展的回顾与展望[J].航空制造技术,2002(02):19-23. |
| [2] | Singh Satyapal;Sriramamurty A M .A divergent beam diffraction method for study of single crystal[J].Bulletin of Materials Science,1991,14(06):1323-1329. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%