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在Sn-4.1X-1.5Cu-Ni焊料合金中添加0.05%(质量分数,下同)(La+Ce),对焊料/Cu焊点等温时效后其界面组织的变化规律以及界面金属间化合物的形成和生长行为进行分析研究,结果表明:随着等温时效时间的延长,Sn-4.1X-1.5Cu-Ni/Cu和Sn-4.1X-1.5Cu-Ni-0.05(La+Ce)/Cu IMC层厚度增加,其界面金属间化合物的增厚主要由扩散机制控制;在SnXCuNi焊料合金中添加0.05% (La+ Ce)后,能有效抑制等温时效过程中界面IMC的形成和生长,从而提高了焊点的可靠性,其中Sn-4.1X-1.5Cu-Ni/Cu的生长速率为2.95×10-17m2/s,Sn-4.1X-1.5Cu-Ni-0.05(La+Ce)/Cu的生长速率为2.51×10-17m2/s.

参考文献

[1] Katsuaki Suganuma .Advances in lead-free electronics soldering[J].Current opinion in solid state & materials science,2001(1):55-64.
[2] DUAN L L;YU D Q;HANS Q et al.Microstructural evolution of Sn-9Zn-3Bi solder/Cu joint during long-term aging at 170℃[J].Journal of Alloys and Compounds,2004,381(1-2):202-207.
[3] YOON J W;LEE Y H;KIM D G et al.Intermetallic compounds layer growth at the interface between Sn-Cu-Ni solder and Cu substrate[J].Journal of Alloys and Compounds,2004,38(01):151-155.
[4] 李树丰,赵高扬.等温时效对Sn3.0Ag2.8Cu/Cu焊点界面层组织的影响[J].机械工程材料,2005(11):21-24,58.
[5] 赵杰,戚琳,王来,刘强,关建华.时效处理对Sn-Ag-Cu-Bi无铅钎料显微组织和力学性能的影响[J].中山大学学报(自然科学版),2003(z1):28-31.
[6] 卢斌,王娟辉,栗慧,朱华伟,焦宪贺.添加0.10%Ce对Sn-0.7Cu-0.5Ni焊料与Cu基板间界面IMC的影响[J].中国有色金属学报,2007(03):390-395.
[7] 陈念贻.键参数函数及其应用[M].北京:科学出版社,1976:15-17.
[8] LU Bin,LI Hui,WANG Juan-hui,ZHU Hua-wei,JIAO Xian-he.Effect of adding Ce on interfacial reactions between Sn-3.0Ag-0.5Cu solder and Cu substrate[J].中南工业大学学报(英文版),2008(03):313-317.
[9] F. Zhang;M. Li;C. C. Chum .Influence of substrate metallization on diffusion and reaction at the under-bump metallization/solder interface in flip-chip packages[J].Journal of Materials Research,2002(11):2757-2760.
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