研究了微弧氧化处理中起始电压U始、终止电压U终对陶瓷层的影响,发现电压是决定微弧氧化陶瓷层生长厚度及表面粗糙度的关键.结果表明:当起始电压U始相等时,终止电压U终(或△U)愈高,陶瓷层厚度愈厚;当终止电压U终相等时,起始电压U始愈高,陶瓷层厚度也愈厚.试样的表面粗糙度随微弧氧化处理终止电压U终的升高而增加,与U始变化的关系不明显.
参考文献
| [1] | 刘永辉;张佩芬.金属腐蚀学原理[M].北京:航空工业出版社,1993 |
| [2] | 郝建民,陈宏,张荣军,蒋百灵.微弧氧化和阳极氧化处理镁合金的耐蚀性对比[J].材料保护,2003(01):20-21. |
| [3] | 郝建民,陈宏,张荣军,蒋百灵.镁合金微弧氧化陶瓷层的耐蚀性[J].中国有色金属学报,2003(04):988-991. |
| [4] | 郝建民,陈宏,张荣军.电参数对镁合金微弧氧化陶瓷层致密性和电化学阻抗的影响[J].腐蚀与防护,2003(06):249-251. |
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