干涉计量技术由于能进行全场测量、非接触、精度和灵敏度高等特点在生产和研究中得到了广泛的应用.很多情况下,被测物理量和光学位相直接相关.本文从基本概念出发,介绍了光、光程、光程差和位相,对应用位相测量光学元件面形的原理做了详细的阐述,并简要列举了现在求取位相常用的方法:时间相移法、空间相移法、载波条纹的Fourier变换法和载波条纹的时域法.
参考文献
| [1] | Oppenheim A V;Lim J S .The Importance of Phase in Signals[J].Proceedings of the IEEE,1981,69(05):529-541. |
| [2] | 郁道银;谈恒英.工程光学[M].北京:机械工业出版社,1999 |
| [3] | 久保田广.波动光学[M].北京:科学出版社,1983 |
| [4] | Robinson D W;Reid G T.Interferogram Analysis:DigitalFringe Pattern Measuring Techniques[M].Bristol:Istiute of physics Publishing,1993 |
| [5] | Bruning J H;Herriott D R;Gallagher D P et al.Digital Wave-front Measuring Interferometer for Testing Optical Surfaces and Lenses[J].Applied Optics,1974,13(11):2693-2703. |
| [6] | 钱克矛,续伯钦,伍小平.光学干涉计量中的位相测量方法[J].实验力学,2001(03):239-249. |
| [7] | Weijers AL.;Frankena HJ.;van Brug H. .Polarization phase stepping with a Savart element[J].Applied optics,1998(22):5150-5155. |
| [8] | James C Wyant.Advances in Interferometric Metrolog[J].photonics Asia,2002:14-18. |
| [9] | QIAN Kemao,WU Xiaoping.An Improvement of Spatial Carrier Phase-shifting Method[J].中国激光,2001(02):102-106. |
上一张
下一张
上一张
下一张
计量
- 下载量()
- 访问量()
文章评分
- 您的评分：
-
10%
-
20%
-
30%
-
40%
-
50%