欢迎登录材料期刊网

材料期刊网

高级检索

本文以纳米SiO2粉末为研究对象,首次比较了三种常用的纳米颗粒粒径检测方法(透射电镜法、X射线衍射法、比表面积法)的检测结果.结果表明:与透射电镜法检测结果相比,X射线衍射法及比表面积法的测量结果偏小,分别小约8.1%和5.9%.

参考文献

[1] 张立德;牟季美.纳米材料和纳米结构[M].北京:科学出版社,2001
[2] 李玲;向航.功能材料与纳米技术[M].北京:化学工业出版社,2002
[3] 尾崎义治;贺集诚一郎;赵修建;张联盟.纳米微米导论[M].武昌:武汉工业大学出版社,1991
[4] 钱逸泰 等.纳米金属、合金、氧化物及纳米金属/氧化物复合材料的辐射化学法合成[J].微米纳米科学与技术,1995,1(01):27.
[5] Eckert J;Holzer J C;Krill C EⅢ et al.Mechanically Driven Alloying and Grain Size Changes in Nanocrystalline Fe-Cu Powders[J].Journal of Applied Physics,1993,73(06):2794-2802.
上一张 下一张
上一张 下一张
计量
  • 下载量()
  • 访问量()
文章评分
  • 您的评分:
  • 1
    0%
  • 2
    0%
  • 3
    0%
  • 4
    0%
  • 5
    0%