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冶金分析 , 2004, 24(z1): 223-224. doi: 10.3969/j.issn.1000-7571.2004.z1.064

X-射线荧光光谱压片法测定石灰石中的SiO2,CaO,MgO

魏纯玉 ^1,

关键词： X荧光光谱法 , 压片 , 基体校正

Determination of SiO2, CaO and MgO in limestone by X-ray fluorescence spectrometry