Bi2212体系的层间耦合对临界电流密度的影响

1.安徽大学物理与材料科学学院,合肥,230039;中国科技大学合肥微尺度物质科学国家实验室,材料科学与工程系,合肥,230026

2.中国科技大学合肥微尺度物质科学国家实验室,材料科学与工程系,合肥,230026

3.中国科技大学合肥微尺度物质科学国家实验室,材料科学与工程系,合肥,230026

4.中国科技大学合肥微尺度物质科学国家实验室,材料科学与工程系,合肥,230026

基金项目: 国家自然科学基金(50072010) 国家重点基础研究发展计划(973计划)(NKBRSF-G19990646-03)

THE EFFECT OF INTERLAYER COUPLING ON CRITICAL CURRENT DENSITY IN Bi2212 SYSTEM

通过对具有不同层间耦合强度的Bi2212单晶样品的磁滞回线的测量,得到了样品的临界电流密度Jc随层间耦合强度和磁场的变化关系.实验结果显示,样品的层间耦合减弱, Jc明显减小.同时发现Jc与磁场间存在Jc∝exp(-Hα)关系,进一步分析表明,Jc的这种磁场依赖关系是对数钉扎势垒模型的必然结果.

[1]	W E Lawrence;S Doniach.[A].Academic Press,Kyoto,1971:361.
[2]	孙雅琴,冯双久,李广,时亮,李晓光.高温超导体磁化强度弛豫与CuO2层间耦合之间的关系研究[J].低温物理学报,2002(02):87-91.
[3]	I Chong;Z Hiroi;M Izumi;J Shimoyama,Y Nakayama,K Kishio,T Terashima,Y Bendo,and M Takano .[J].Science,1997,276:770.
[4]	X.-G. Li;X. F. Sun;X. J. Fan .Pr-doping effect on the depinning of vortices in Bi_(2)Sr_(2)Ca_(1-x)Pr_(x)Cu_(2)O_(y) single crystals[J].Journal of Applied Physics,2000(9):5567-5569.
[5]	孙学峰;吴文彬;朱警生;赵小如汪良斌周贵恩李晓光张裕恒 .[J].低温物理学报,1996,18:362.
[6]	C P Bean .[J].Reviews of Modern physics,1964,36:31.
[7]	A Umezawa;G W Crabtree;J Z Liu;H W Weber,W K Kwok,L H Nurez,T J Morun,C H Sowers .[J].Physical Review,1987,B36:7151.
[8]	E Zeldov;N M Amer;G Koren;A Gupta,M W McElfresh,and R J Gambino .[J].Applied Physics Letters,1990,56:680.
[9]	E Zeldov;N M Amer;G Koren;A Gupta .[J].Applied Physics Letters,1990,56:1700.

上一张下一张

计量

作者相关

文章评分