高稳定性Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜DC-SQUID

低温物理学报 , 1999, 21(4): 296-299. doi: 10.3969/j.issn.1000-3258.1999.04.013

高稳定性Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜DC-SQUID

王晶 ^1, , 韩冰 ^2, , 徐凤枝 ^3, , 赵士平 ^4, , 陈赓华 ^5, , 杨乾声 ^6, , 阎少林 ^7, , 方兰 ^8, , 何明 ^9, , 路荣涛 ^10,

1.中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080

2.中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080

3.中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080

4.中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080

5.中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080

6.中科院物理所,凝聚态物理中心,北京,100080

7.南开大学电子科学系,天津,300071

8.南开大学电子科学系,天津,300071

9.南开大学电子科学系,天津,300071

10.南开大学电子科学系,天津,300071

HIGHLY STABLE DC-SQUIDS WITH Tl2Ba2CaCu2Ox FILMS

与YBCO薄膜相比,Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜具有更高的Tc和更好的抗湿性能,所以Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜器件不仅在液氮温度下具有更好的稳定性,而且在室温下具有更长的存放寿命.我们用磁控溅射的方法分别在24°和36.8°的STO双晶衬底上外延出Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜并制备成晶界结DC-SQUID,比较了二者由于晶界夹角不同而产生的性能差异,并给出可工作在95K的DC-SQUID干涉曲线;对工作在77K的Tl2Ba2CaCu2Ox和YBCO薄膜双晶DC-SQUID,比较了二者在噪声特性及临界电流和结电阻随温度变化等特性,并对结果作了讨论.

参考文献

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