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从光干涉条纹图像的CCD获取出发,进行Canny算法优化处理,并以FPGA为核心芯片设计了液晶盒厚测量系统.实验结果表明,本系统具有误差小、设备简单、操作快捷等特点,在满足液晶盒厚在线自动测量的同时,相对标准差提高到0.02%以上,可以满足液晶显示器件生产厂家盒厚实时监控的需要.

参考文献

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