研究了正极片的不同搁置时间对正极片电阻率及其制作的电池平均内阻变化的影响.采用场发射电子显微镜(FE-SEM)、感应耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP)及X-射线光电子能谱仪(XPS)等测试手段对正极片进行了表征.结果表明,在不同搁置时间(0～25 h)段,正极片电阻率是受磷酸铁锂表面碳包覆层与磷酸铁锂作用力、磷酸铁锂与水反应以及粘合剂的粘合作用共同影响的.
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