参考文献
| [1] | Alexander D.R..Transient ionizing radiation effects in devices and circuits[J].IEEE Transactions on Nuclear Science,20033(3):565-582. |
| [2] | 金晓明;范如玉;陈伟;王桂珍;林东生;杨善潮;白小燕.CMOS工艺微控制器瞬时电离辐射效应实验研究[J].原子能科学技术,2010(12):1487-1492. |
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