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功能材料, 2017, 48(2): 2080-2090.
10.3969/j.issn.1001-9731.2017.02.014
Cu/Co双层膜微观结构和磁学性能

刘红亮 1, , 陈冷 2,

1.北京科技大学 材料科学与工程学院,北京,100083;
2.北京科技大学 材料科学与工程学院,北京,100083
用原子力显微镜(AFM)和X射线衍射(XRD)研究了不同厚度Cu/Co双层膜的表面形貌和微观结构,并用振动样品磁强计(VSM)测量了磁滞回线.实验结果表明,薄膜表面由均匀岛状结构组成,随着Co薄膜厚度增加,"小岛"高度升高,之后部分"小岛"发生合并长大.当Co薄膜厚度为5和15 nm时,Co为fcc结构;当Co薄膜厚度为30 nm时,fcc结构和hcp结构同时存在.此外,随着Co薄膜厚度增加,对应磁滞回线矩形度逐渐变大,并且矫顽力和饱和磁化强度逐渐增大.
引用： 刘红亮, 陈冷 Cu/Co双层膜微观结构和磁学性能. 功能材料, 2017, 48(2): 2080-2090. doi: 10.3969/j.issn.1001-9731.2017.02.014
参考文献：

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