㒄
㐴
液晶与显示 , 2017, 32(3): 196-205.
10.3788/YJYXS20173203.0196
电场对负性向列相液晶薄盒影响的研究

张晶 1, , 陈思博 2, , 孙洋 3, , 张志东 4,

1.河北工业大学 理学院,天津,300401;
2.河北工业大学 理学院,天津,300401;
3.河北工业大学 理学院,天津,300401;
4.河北工业大学 理学院,天津,300401
基于Landau-de Gennes理论,利用松弛迭代法,研究了电场对垂直排列(VA)液晶薄盒和反扭曲向列相(ITN)液晶薄盒的影响.两系统在相同条件下的倾角变化相同,且系统双轴性与本征值的变化只取决于倾角的变化.研究表明,当盒厚大于一定临界值时,液晶系统一直处于正序参数态,此时ITN 薄盒的扭曲角由线性排列逐渐变化到呈45°角排列;当小于此临界盒厚时,在一定电压下会出现负序参数单轴态,此时ITN薄盒的扭曲角会偏离线性变化出现回滞.
引用： 张晶, 陈思博, 孙洋, 张志东 电场对负性向列相液晶薄盒影响的研究. 液晶与显示 , 2017, 32(3): 196-205. doi: 10.3788/YJYXS20173203.0196
参考文献：

相似文献: